SEM

تصویرگرفتن از سطوح در بزرگنمایی ۱۰ تا ۱۰۰،۰۰۰ برابر با قدرت تفکیک در   حد ۳ تا ۱۰۰ نانومتر در صورت تجهیز به آشکارساز back Scattered میکروسکوپ‌ها قادر به انجام امور زیر خواهند بود مشاهده مرزدانه، در نمونه‌های حکاکی ‌نشده، b) مشاهده حوزه‌ها (domains) در مواد فرومغناطیس، ارزیابی جهت کریستالوگرافی دانه‌ها با قطرهایی به کوچکی ۲ تا ۱۰ میکرومتر. سایر کاربردهای این دستگاه عبارتند از:

• بررسی نمونه‌هایی که برای متالوگرافی آماده شده‌اند، در بزرگنمایی بسیار
• بررسی مقاطع شکست و سطوحی که حکاکی عمیق شده‌اند، که مستلزم عمق میدانی   بسیار بزرگتر از حد میکروسکوپ نوری است. 
• ارزیابی جهت کریستالوگرافی اجرایی نظیر دانه‌ها، فازهای رسوبی و دندریت‌ها بر روی سطوح آماده‌شده برای کریستالوگرافی
• شناسایی مشخصات شیمیایی اجزایی به کوچکی چندمیکرون روی سطح نمونه‌ها،  برای مثال،‌ آخال‌ها، فازهای رسوبی و پلیسه‌های سایش
• ارزیابی گرادیان ترکیب شیمیایی روی سطح نمونه‌ها در فاصله‌ای به کوچکی       µm 1
• بررسی قطعات نیمه‌هادی برای آنالیز شکست، کنترل عملکرد و تأیید طراحی