دستگاه AFM
میکروسکوپ نیروی اتمی
(AFM) Atomic-force microscopy
ARA AFM-FULL PLUS
تصویربرداری توپوگرافیک سطوح سه بعدی همچون سختی سطح، اندازه دانه ها و ارتفاع پستی بلندی ها
تصویربرداری از دیگر مشخصه های نمونه همچون میدان مغنایسی، ظرفیت الکتریکی، فاز و سایش
ميکروسکوپ نيروي اتمي (AFM) دستگاهي است كه براي بررسي خواص و ساختار سطحي مواد در ابعاد نانومتري به كار مي‌رود. انعطاف‌پذيري، سيگنالهاي بالقوة متعدد، و امكان عملكرد دستگاه در مدهاي مختلف محققين را در بررسي سطوح گوناگون، تحت شرايط محيطي متفاوت توانمند ساخته است.
بر خلاف اكثر روشهاي بررسي خواص سطوح، در اين روش غالباً محدوديت اساسي بر روي نوع سطح و محيط آن وجود ندارد. با اين دستگاه امكان بررسي سطوح رسانا يا عايق ، نرم يا سخت ، منسجم يا پودري ، بيولوژيك و آلي يا غيرآلي وجود دارد. خواص قابل اندازه‌گيري با اين دستگاه شامل مورفولوژي هندسي،توزيع چسبندگي، اصطكاك، ناخالصي سطحي، جنس نقاط مختلف سطح، كشساني، خواص مغناطيسي، بزرگي پيوندهاي شيميايي، توزيع بارهاي الكتريكي سطحي، و قطبيت الكتريكي نقاط مختلف مي‌باشد.
در عمل از اين قابليتها براي بررسي ويژگي‌هايي همچون : خوردگي، تميزي، يكنواختي، زبري، چسبندگي، اصطكاك و اندازه استفاده مي شود.
نانو لیتوگرافی
نانو ماشین کاری سطوح سخت سرامیکی
نانو برشکاری
بررسی تیزی لبه ابزارهای ماشینکاری دقیق
پردازش و نمایش دقیق سیگنال های استخراج شده از کانال های دستگاه
سیستم غلبه بر خطا و عدم قطعیت
نمونه برداری با فرکانس بالا و استفده از عملگرهای با پهنای باند زیاد
جابه جایی نمونه در دو جهت عرض و طول با استفاده از نرم افزارسیستم پردازش تصاویر
حذف ارتعاشات
متعلقات اپتیکی به منظور تنظیمات آسان تر
دانشکده فنی – آزمایشگاه همکار مرکزی
